Увеличение пропускной способности цифрового мультиметра

Опубликовано 07 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 37

  • Название: Improving Digital Multimeter Throughput (Agilent, Measurements Tips, Volume 5, Number 1)
  • Тип документа: Measurements Tips
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 595 КБ

Краткое описание:

Whether your electronic test is in a manufacturing, design validation, or R&D environment, reducing your test time translates to lower cost and shortened product development schedules, both of which are clear benefi ts. The vast majority of electronic tests involve using a digital multimeter (DMM) at one time or another. There are a variety of ways to reduce DMM measurement times to improve overall test throughput. Of course, test time improvements sometimes require compromises in other areas, but knowing the tradeoffs involved in throughput improvements and identifying what is important in your specifi c test situation will help you determine which tradeoffs make the most sense.

Далее...

Советы по выбору подходящего датчика температуры для вашего применения

Опубликовано 07 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 44

  • Название: Hints for Selecting the Correct Temperature Sensor for Your Application (Agilent, Measurements Tips, Volume 1, Number 3)
  • Тип документа: Measurements Tips
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 335 КБ

Краткое описание:

If you want to make reliable temperature measurements, you need to carefully select the right temperature sensor for your application. Understanding the advantages and disadvantages of temperature sensors will help you take the proper precautions when you set up a test. Thermocouples, thermistors, resistance temperature detectors (RTDs), and temperature ICs are the most common temperature sensors used in electronic test. This measurement brief compares operating ranges, accuracy, cost, stability, sensitivity and ease of use for these popular temperature sensors.

Далее...

Rohde&Schwarz представило программное обеспечение для анализа искажений R&S FS-K130PC

Опубликовано 04 Окт 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 40

Компания Rohde & Schwarz разработала программное обеспечение для измерения искажений, вносимых усилителями мощности, смесителями и другими широкополосными компонентами линии передачи, а также их последующего моделирования и линеаризации. По результатам измерения ПО производит расчет коэффициентов модели устройства, а также предыскажений во входном сигнале, которые необходимо внести, чтобы устройство обеспечивало “линейный ” режим работы. Внесение предыскажений, например, является эффективным путем для достижения наибольшей выходной мощности усилителей без увеличения мощности потребления. ПО R&S FS-K130PC наряду с полиномиальными методами расчета, использует более сложные алгоритмы типа Вольтерра, что позволяет характеризовать усилители мощности с эффектом запоминания. Данное решение является уникальным на рынке и делает ПО R&S FS-K130PC незаменимым при разработке современных усилителей мощности.

Далее...

National Instruments представила новую платформу сбора данных с интерфейсом Ethernet

Опубликовано 20 Сен 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 71

Новое шасси cDAQ позволяет создать высокоскоростные, распределенные системы измерений сигналов

Компания National Instruments объявила о выходе новой недорогой, модульной системы NI CompactDAQ на базе интерфейса Ethernet, которая обеспечивает простоту использования в сочетании с производительностью и гибкостью модульных систем. Новое восьмислотовое шасси NI cDAQ-9188 в промышленном исполнении, размерами 25х9х9 см, предназначено для подключения до 256 каналов иземрений электрических, физических или виброакустических сигналов. Более 50 модулей С-серии позволяют создавать удаленные или распределенные высокоростные системы сбора данных на базе гигабитного интерфейса Ethernet. Для систем NI CompactDAQ упрощен процесс первоначальной настройки с помощью специальной технологиии начальной установки и встроенной Web-утилиты конфигурирования и мониторинга состояния системы.

Далее...

Метки: , , ,

Agilent представляет IC-CAP WaferPro – программное обеспечении для автоматизированного DC и RF тестирования на пластинах

Опубликовано 19 Сен 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 63

Agilent объявил о выходе нового программного обеспечения IC-CAP WaferPro для снятия характеристик и анализа полупроводниковых интегральных схем и приборов.Новое программное обеспечение обеспечивает возможность многоместного (multi-site) режима измерения, режима с несколькими пластинами (multi-wafer), автоматизированного DC и RF измерения.

WaferPro позволяет пользователям управлять полуавтоматическими и полностью автоматическими зондовыми станциями. Благодаря поддержке последних матричных переключателей и решений с термальным столиком, WaferPro позволяет  автоматизировать развернутые измерения в диапазоне температур. Возможность WaferPro непосредственно управлять параметрическими системами тестирования Agilent 4070 и 4080  значительно увеличивает скорость измерений.

Далее...

Метки: , ,

Исследования показали, что отладка схем с помощью осциллографов Tektronix MSO4000 выполняется на 53% быстрее

Опубликовано 18 Сен 2010 | Рубрика Tektronix, Новости, Разное | Просмотров: 102

Компания Tektronix Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, в конце апреля 2010 года опубликовала результаты Исследования хронометража движений, проведенного в декабре 2009 года исследовательской фирмой Hansa|GCR под названием “Поиск поврежденных пакетов и глитчей в цифровых сигналах: исследование восприятия пользователем трех осциллографов”. Исследование показало, что две трети участников отдали предпочтение осциллографам смешанных сигналов Tektronix MSO4000, которые на 53% быстрее, чем осциллографы других производителей, находили поврежденные пакеты и глитчи в процессе отладки схем.

Далее...

Компактная диагностическая безэховая камера R&S®DST200 для разработки РЭС до 6 ГГц

Опубликовано 17 Сен 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 54

Компания Rohde&Schwarz представила новую безэховую камеру. Компактный размер позволяет разместить её на рабочем месте разработчика РЭС. Частотный диапазон от 700 МГц до 6 ГГц, однородность поля менее 3,2 дБ и экранирование 110 дБ делает камеру пригодной для тестирования, например, телефонов и других приёмников беспроводных стандартов связи (WLAN, WiMAX, GPS и т.д.).

Далее...

LabVIEW 2010 обладает оптимизированным компилятором для быстрого исполнения кода

Опубликовано 16 Сен 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 116

Компания National Instruments представила специальную программу для разработчиков LabVIEW, позволяющую расширить функциональность платформы для использования в новых приложениях

Компания National Instruments представила LabVIEW 2010, последнюю версию среды графической разработки, предназначенную для использования в таких приложениях как тестирование, измерения, и системы управления. Новая версия среды разработки позволяет значительным образом снизить временные затраты на создание приложений за счет оптимизации компилятора, позволяющего увеличить скорость исполнения кода в среднем на 20%, а также широкого спектра библиотек функций, которые можно использовать для создания собственных алгоритмов.

Далее...

National Instruments представила первый в отрасли векторный анализатор цепей на базе PXI

Опубликовано 16 Сен 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 47

Новый двухслотовый модуль PXI представляет собой векторный анализатор цепей в диапазоне до 6 ГГц, предназначенный для автоматизированного тестирования ВЧ-устройств

Компания National Instruments представила новый модуль NI PXIe-5630, ставший первым в области автоматизированных измерений анализатором цепей, выполненным в компактном форм-факторе PXI. Новый векторный анализатор цепей позволяет проводить весь спектр измерений на проход и отражение радиочастотных сигналов, а также обладает прецизионной автоматической калибровкой и идеально подходит для автоматизированной отладки прототипов ВЧ-устройств и автоматизированного тестирования при серийном производстве.

Далее...