Комплексное решение для испытаний сети LTE от Rohde & Schwarz

Опубликовано 19 Окт 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 61

Rohde & Schwarz выпустила новую версию программного обеспечения R&S ROMES, комплексного решения для тестирования LTE. Программное обеспечение получает доступа к данным от сканера R&S TSMW LTE  и тестового USB  LTE терминала. При проведении тестового проезда для оптимизации сетей, инженеры-испытатели в состоянии измерить скорость передачи и качество передачи данных в контрольной точке. Тестовые LTE терминалы имеют несколько антенн и поддержку технологии передачи со многими входами-выходами MIMO (Multiple Input Multiple Output).

Полевые испытания и первый запуск сетей LTE находятся в настоящее время в стадии реализации во многих странах. Например LTE сети уже запущены и работают в Швеции и США. По результатам запуска, монтажники и операторы LTE-инфраструктуры и их поставщики услуг теперь могут в состоянии проверить пропускную способность и качество передачи новых беспроводных сетей связи. Кроме того, тесты передачи гарантируют плавный переход между сетями, которые используют различные стандарты беспроводной связи.

Далее...

Метки: , , , ,

National Instruments добавляет возможность автоматического тестирования LTE для PXI RF-устройств

Опубликовано 18 Окт 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 42

Компания National Instruments представила набор библиотек для тестирования протокола беспроводной связи LTE, используемый совместно с радиочастотными векторными генераторами и анализаторами сигналов в формате PXI. Уже 20 и 21 октября в Чикаго на Всемирной конференции по беспроводным сетям 4-го поколения специалисты National Instruments продемонстрируют возможности платформы. Новая платформа была разработана специально для функционального тестирования беспроводных модулей, подсистем, станций мобильной связи и представляет собой функционально гибкое и высокоточное решение для специалистов, занимающихся разработкой специализированных систем тестирования оборудования, работающего в сетях LTE.

Далее...

Метки: , , , ,

Keithley обновляет программное обеспечение ACS Basic Edition для тестирования полупроводниковых изделий

Опубликовано 16 Окт 2010 | Рубрика Keithley, Новости | Просмотров: 47

Новая версия 1.2 ПО Keithley ACS Basic Edition для параметрического тестирования полупроводников обеспечивает новый уровень удобства пользования, комфорта и производительности при измерениях характеристических параметров компонентов и дискретных (в корпусе) полупроводниковых устройств. Возможность режима трассировки, которая позволяет проводить мгновенную проверку результатов и в интерактивном режиме управлять напряжением, чтобы избежать пробоя устройства.

Далее...

Спецификация на генераторы Agilent семейства 81100 (Pulse Pattern Generators)

Опубликовано 15 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Spec's & DataSheets | Просмотров: 50

  • Название: Agilent Technologies 81100 Family of Pulse Pattern Generators
  • Автор: Agilent
  • Тип документа (версия): Technical Specifications (Version 1.2)
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 282 КБ

Краткое описание:

The Agilent 81101A, 81104A, 81110A and 81130A generate all the standard pulses and digital patterns needed to test current logic technologies (CMOS, TTL, LVDS, ECL, etc.).
With the optional second channel on all of the models from 80 MHz to 660 MHz, multi-level and multi-timing signals can be obtained using the internal channel addition feature.
- variable pulse parameters in pattern mode as well as in pulse mode (not on the 81130A);
- synchronously triggerable;
- simulation of reflections/distortions (81104A, 81110A);
- three/four-level codes (81104A, 81110A).

Далее...

Справочное руководство Agilent 81130A 400/660MHz Pulse/Data Generator

Опубликовано 15 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Guides & Manuals | Просмотров: 46

  • Название: Agilent 81130A 400/660MHz Pulse/Data Generator
  • Автор: Agilent
  • Тип документа: Reference Guide
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 0,98 МБ

Краткое описание:

This guide provides reference information primarily for programming the Agilent 81130A via remote control.
Chapter 1 “General Programming Aspects” on page 13 gives general hints for programming instruments like the Agilent 81130A using SCPI commands.
Chapter 2 “Programming Reference” on page 25 provides detailed information on the SCPI commands supported by the instrument.
Chapter 3 “Specifications” on page 95 lists the instrument’s technical specifications and provides exact definitions for the instrument’s parameters.
For an introduction and information on the Agilent 81130A’s user interface, please refer to the Quick Start Guide, p/n 81130-91020.

Далее...

Каталог пробников для логических анализаторов Agilent

Опубликовано 13 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 1

  • Название: Probing Solutions for Logic Analyzers
  • Автор: Agilent
  • Тип документа: Каталог
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 2,88 МБ

Краткое описание:

To assist you in choosing the best state/timing probing solution for your particular target, this document will consider the following:
- сhip packaging, test ports;
- special physical and electrical considerations;
- other accessories and options.

Далее...

Логические анлизаторы Agilent серии 16800 (DataSheet)

Опубликовано 13 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Spec's & DataSheets | Просмотров: 52

  • Название: Agilent 16800 Series Portable Logic Analyzers
  • Автор: Agilent
  • Тип документа: Data Sheet
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 1,06 МБ

Краткое описание:

Agilent 16800 Series portable logic analyzers offer the performance, applications, and usability your digital development team needs to quickly debug, validate, and optimize your digital system – at a price that fits your budget.
16800 Series logic analyzers let you make accurate high-speed timing measurements with 4 GHz (250 ps) high-speed timing zoom. A parallel acquisition architecture provides high-speed timing measurements simultaneously through the same probe used for state or timing measurements. Timing zoom stays active all the time with no tradeoffs. View data at high resolution over longer periods of time with 64-K-deep timing zoom.

Далее...

Функциональный генератор SRS DS360 (DataSheet)

Опубликовано 13 Окт 2010 | Рубрика Spec's & DataSheets, Stanford Research Systems | Просмотров: 59

  • Название: DS360 Function Generator
  • Автор: Stanford Research Systems
  • Тип документа: Datasheet
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 116 КБ

Краткое описание:

The performance of a low-distortion analog source and the precision of direct digital synthesis (DDS) is combined in the DS360. With less than 0.001 % total harmonic distortion (THD), 25 ppm frequency accuracy, and a broad range of features including sweeps and bursts, the DS360 is the ideal source for audio frequency applications.

Далее...

Компания Realtek выбрала тестер Teradyne J750Ex для комплексного тестирования ИМС

Опубликовано 12 Окт 2010 | Рубрика Teradyne, Новости | Просмотров: 52

Компания Teradyne объявила, что Realtek выбрала тестер J750Ex для отбраковки на пластинах и окончательного тестирования своих устройств. Realtek, fabless-компания по производству полупроводниковых микросхем со штаб-квартирой в Тайване, является ведущим поставщиком Ethernet-контроллеров и аудио-кодеков, используюемых в портативных и настольных ПК. Выбор тестера J750Ex был основан на его высоких возможностях по пропускной способности при тестировании и эффективной среды разработки IG-XL ®.

Далее...

Verigy получает награду SEMI за инновации в тестирование

Опубликовано 11 Окт 2010 | Рубрика Verigy, Новости | Просмотров: 39

Компания Verigy получила первую награду  Advanced Testing Innovation Award от SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International’s),  за вклад в повышение функциональности и эффективности в полупроводниковом тестировании. Награда была вручена на выставке SEMICON в Тайване.

Такие характеристики тестовых систем Verigy, как способность работы в различных частотных диапазонах, количество каналов и множество типов устройств для тестирования, помогают клиентам сократить время выхода на рынок и снизить общую стоимость теста.

Далее...

Метки: , , ,