Рубрика «Статьи & Обзоры»

De-embedding повышает точность измерения

Опубликовано 03 Дек 2010 | Рубрика Статьи & Обзоры | Просмотров: 106

Инженеры могут компенсировать потери сигнала в кабеле, разъемах, и тестовых платах.

Автор: Randy White (Tektronix)
Источник: T&M World
Перевод: Atmen

Непрекращающееся увеличение скорости последовательной передачи данных вынуждает инженеров понимать эффекты, которые происходят в линиях передачи и тестовой оснастке при измерениях глазковой диаграммы. По мере увеличения скорости передачи данных, потери в оснастке и каналах передачи могут приводить к неточностям в глазковой диаграмме. Удаление, или исключение неоднородных эффектов (de-embedding), возникающих в оснастке и каналах передачи при измерениях, позволяет  просматривать истинную глазковую диаграмму сигнала.

Поскольку высокоскоростной сигнал передается, он теряет свою точность (качество), особенно если среда канала передачи – недорогой материал печатной платы FR-4. Кабели, разъемы, и тестовая оснастка также способствует деградации сигнала. Результат: закрытая (или несуществующая) глазковая диаграмма на дальнем конце канала передачи.

Далее...

Agilent 53200A – проверка разрешения 20пс в режиме одиночного отсчета.

Опубликовано 26 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Статьи & Обзоры | Просмотров: 73

Недавно компания Agilent представила семейство универсальных частотомеров серии 53200А. В этой статье я рассмотрю более подробно такой параметр, как разрешение в режиме одиночного отсчета (Single Shot Resolution (SSR)), определенный в спецификации для Agilent 53200A равным 20 ps. То, какое счетчик имеет разрешение SSR, определяет, как хорошо он может принять (обработать) событие во времени, где событие это изменение фронтом порога. Величина 20 пс – это лидирующий в отрасли показатель.

Далее...

Выбор правильной шины для работы

Опубликовано 08 Окт 2010 | Рубрика Keithley, Статьи & Обзоры | Просмотров: 64

  • Название: The Right Bus for the Job
  • Автор: Chris Armstrong, Keithley Instruments, Inc.
  • Тип документа: Статья
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 637 КБ

Краткое описание:

Data acquisition and test and measurement system performance depends as much on the proper instrumentation bus as having the right hardware. With the multitude of buses available today, sometimes it’s difficult to know which one to choose for a given application. This article looks at some of the most common instrumentation buses and the applications that are most likely to benefit from each of them.

Далее...

Метки: , , , , , ,