Рубрика «Agilent»

Agilent представляет IC-CAP WaferPro – программное обеспечении для автоматизированного DC и RF тестирования на пластинах

Опубликовано 19 Сен 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 63

Agilent объявил о выходе нового программного обеспечения IC-CAP WaferPro для снятия характеристик и анализа полупроводниковых интегральных схем и приборов.Новое программное обеспечение обеспечивает возможность многоместного (multi-site) режима измерения, режима с несколькими пластинами (multi-wafer), автоматизированного DC и RF измерения.

WaferPro позволяет пользователям управлять полуавтоматическими и полностью автоматическими зондовыми станциями. Благодаря поддержке последних матричных переключателей и решений с термальным столиком, WaferPro позволяет  автоматизировать развернутые измерения в диапазоне температур. Возможность WaferPro непосредственно управлять параметрическими системами тестирования Agilent 4070 и 4080  значительно увеличивает скорость измерений.

Далее...

Метки: , ,