Рубрика «Agilent»

Agilent представляет серию портативных цифровых мультиметров для промышленного применения

Опубликовано 09 Ноя 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 51

Серия портативных цифровых мультиметров (digital multimeters (DMMs)) U1270, представленные Agilent Technologies, являются пыле- и водостойкие, разработанные специально для специалистов по ремонту, которые работают в пыльных, грязных, влажных и темных помещениях.

Мультиметры включают такие возможности, как режим низкого импеданса для устранения паразитных напряжений, и низкочастотной фильтрации для удаления шума, который искажает показания напряжения и тока. Функция Smart Ohm помогает обеспечить точные результаты путем сведения к минимуму ложных показаний из-за утечек тока.

Далее...

Agilent 53200A – проверка разрешения 20пс в режиме одиночного отсчета.

Опубликовано 26 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Статьи & Обзоры | Просмотров: 74

Недавно компания Agilent представила семейство универсальных частотомеров серии 53200А. В этой статье я рассмотрю более подробно такой параметр, как разрешение в режиме одиночного отсчета (Single Shot Resolution (SSR)), определенный в спецификации для Agilent 53200A равным 20 ps. То, какое счетчик имеет разрешение SSR, определяет, как хорошо он может принять (обработать) событие во времени, где событие это изменение фронтом порога. Величина 20 пс – это лидирующий в отрасли показатель.

Далее...

Agilent представляет первые в отрасли RF и универсальные частотомеры серии 53200 с поддержкой LXI

Опубликовано 19 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 91

Agilent представляет первые частотомеры с поддержкой LXI класса С.

Серия 53200 демонстрирует ведущую в отрасли производительность и удобство использования, построен по стандартной вычислительной системе ввода/вывода для простоты подключения и сбора данных. Сочетание высокоскоростных измерений и встроенный анализ обеспечивает новые функциональные возможности, ранее недоступные в простых частотомерах.

RF и универсальные частотомеры Agilent серии 53200 предлагают базовую полосу пропускания 350 МГц с возможностью увеличения до 15 ГГц. Скорость чтения измерений возросла более чем на два порядка от предыдущего поколения. 53200 предлогает разрешение до 12 цифр в секунду разрешение при непрерывном счете и 20 пикосекунд разрешение при однократном, придав ему высокий потенциал в своем классе.

Далее...

Спецификация на генераторы Agilent семейства 81100 (Pulse Pattern Generators)

Опубликовано 15 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Spec's & DataSheets | Просмотров: 51

  • Название: Agilent Technologies 81100 Family of Pulse Pattern Generators
  • Автор: Agilent
  • Тип документа (версия): Technical Specifications (Version 1.2)
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 282 КБ

Краткое описание:

The Agilent 81101A, 81104A, 81110A and 81130A generate all the standard pulses and digital patterns needed to test current logic technologies (CMOS, TTL, LVDS, ECL, etc.).
With the optional second channel on all of the models from 80 MHz to 660 MHz, multi-level and multi-timing signals can be obtained using the internal channel addition feature.
- variable pulse parameters in pattern mode as well as in pulse mode (not on the 81130A);
- synchronously triggerable;
- simulation of reflections/distortions (81104A, 81110A);
- three/four-level codes (81104A, 81110A).

Далее...

Справочное руководство Agilent 81130A 400/660MHz Pulse/Data Generator

Опубликовано 15 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Guides & Manuals | Просмотров: 47

  • Название: Agilent 81130A 400/660MHz Pulse/Data Generator
  • Автор: Agilent
  • Тип документа: Reference Guide
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 0,98 МБ

Краткое описание:

This guide provides reference information primarily for programming the Agilent 81130A via remote control.
Chapter 1 “General Programming Aspects” on page 13 gives general hints for programming instruments like the Agilent 81130A using SCPI commands.
Chapter 2 “Programming Reference” on page 25 provides detailed information on the SCPI commands supported by the instrument.
Chapter 3 “Specifications” on page 95 lists the instrument’s technical specifications and provides exact definitions for the instrument’s parameters.
For an introduction and information on the Agilent 81130A’s user interface, please refer to the Quick Start Guide, p/n 81130-91020.

Далее...

Каталог пробников для логических анализаторов Agilent

Опубликовано 13 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 1

  • Название: Probing Solutions for Logic Analyzers
  • Автор: Agilent
  • Тип документа: Каталог
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 2,88 МБ

Краткое описание:

To assist you in choosing the best state/timing probing solution for your particular target, this document will consider the following:
- сhip packaging, test ports;
- special physical and electrical considerations;
- other accessories and options.

Далее...

Логические анлизаторы Agilent серии 16800 (DataSheet)

Опубликовано 13 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Spec's & DataSheets | Просмотров: 53

  • Название: Agilent 16800 Series Portable Logic Analyzers
  • Автор: Agilent
  • Тип документа: Data Sheet
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 1,06 МБ

Краткое описание:

Agilent 16800 Series portable logic analyzers offer the performance, applications, and usability your digital development team needs to quickly debug, validate, and optimize your digital system – at a price that fits your budget.
16800 Series logic analyzers let you make accurate high-speed timing measurements with 4 GHz (250 ps) high-speed timing zoom. A parallel acquisition architecture provides high-speed timing measurements simultaneously through the same probe used for state or timing measurements. Timing zoom stays active all the time with no tradeoffs. View data at high resolution over longer periods of time with 64-K-deep timing zoom.

Далее...

Agilent начинает представление нового релиза программы ADS 2011 для RF-дизайна

Опубликовано 11 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 40

Новые возможности в ADS 2011 включают настоящую мультитехнологию RF-дизайна.

Agilent Technologies начал представлять следующую версию ADS (Advanced Design System) – флагмана программного обеспечения для RF-дизайна. Согласно Agilent, ADS 2011 обеспечивает возможность для мультитехнологичного дизайна, присущего для сегодняшних  SiP (System-in-Package) RF-компонентов и поднимает планку для RF EDA.

Далее...

Увеличение пропускной способности цифрового мультиметра

Опубликовано 07 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 37

  • Название: Improving Digital Multimeter Throughput (Agilent, Measurements Tips, Volume 5, Number 1)
  • Тип документа: Measurements Tips
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 595 КБ

Краткое описание:

Whether your electronic test is in a manufacturing, design validation, or R&D environment, reducing your test time translates to lower cost and shortened product development schedules, both of which are clear benefi ts. The vast majority of electronic tests involve using a digital multimeter (DMM) at one time or another. There are a variety of ways to reduce DMM measurement times to improve overall test throughput. Of course, test time improvements sometimes require compromises in other areas, but knowing the tradeoffs involved in throughput improvements and identifying what is important in your specifi c test situation will help you determine which tradeoffs make the most sense.

Далее...

Советы по выбору подходящего датчика температуры для вашего применения

Опубликовано 07 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 44

  • Название: Hints for Selecting the Correct Temperature Sensor for Your Application (Agilent, Measurements Tips, Volume 1, Number 3)
  • Тип документа: Measurements Tips
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 335 КБ

Краткое описание:

If you want to make reliable temperature measurements, you need to carefully select the right temperature sensor for your application. Understanding the advantages and disadvantages of temperature sensors will help you take the proper precautions when you set up a test. Thermocouples, thermistors, resistance temperature detectors (RTDs), and temperature ICs are the most common temperature sensors used in electronic test. This measurement brief compares operating ranges, accuracy, cost, stability, sensitivity and ease of use for these popular temperature sensors.

Далее...