Метка «STMicroelectronics»

Agilent IC-CAP WaferPro успешно внедрена в STMicroelectronics

Опубликовано 16 Ноя 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 52

Agilent Technologies объявила, что ее программное обеспечение IC-CAP WaferPro было успешно развернуто в STMicroelectronics. WaferPro добавляет новые возможности программной платформе IC-CAP для обеспечения эффективных автоматизированных измерений на пластине для приложений моделирования.

STMicroelectronics использует IC-CAP в качестве платформы моделирования для экстракции моделей полупроводниковых приборов для кремниевых устройств (например CMOS и BJT). Компания будет использовать IC-CAP WaferPro для проведения всех автоматизированных  измерений на полупроводниковой пластине.

Далее...