Рубрика «Разное»

Вводный курс NI LabVIEW 8.5

Опубликовано 20 Окт 2010 | Рубрика Guides & Manuals, National Instruments, Разное | Просмотров: 48

  • Название: NI LabVIEW 8.5 Вводный курс
  • Автор: National Instruments
  • Тип документа: Учебное пособие
  • Язык: РУС
  • Формат: PDF
  • Размер: 0,99 МБ

Краткое описание:

Данное руководство можно использовать в качестве учебного пособия для знакомства со средой графического программирования LabVIEW, а также некоторыми базовыми функциями для создания приложений сбора данных и управления приборами. Руководство содержит набор упражнений помогающих изучить процесс разработки приложений в LabVIEW. Выполнение упражнений не займет много времени, зато позволит Вам начать программировать в LabVIEW. В конце каждой главы приводятся краткие выводы о рассмотренных аспектах программирования, которые можно использовать для повторения изученного материала.

Далее...

NI FlexRIO. Разработка собственных PXI-приборов

Опубликовано 20 Окт 2010 | Рубрика National Instruments, Разное | Просмотров: 46

  • Название: NI FlexRIO. Разработка собственных PXI-приборов.
  • Автор: National Instruments
  • Тип документа: Брошюра
  • Язык: РУС
  • Формат: PDF
  • Размер: 1,29 МБ

Краткое описание:

NI FlexRIO представляет собой линейку оборудования с встроенными линиями ввода/вывода для конфигурирования в среде NI LabVIEW FPGA. NI FlexRIO состоит из двух основных компонентов NI FlexRIO FPGA на базе ПЛИС для платформы PXI и адаптерного модуля NI Flex RIO. Сочетание этих двух компонентов позволяет получить высокопроизводительный, реконфигурируемый инструмент под управлением программного обеспечения LabVIEW FPGA. Используйте комплект разработки NI FlexRIO Module Development Kit для создания собственных приборов.

Далее...

Метки: , , ,

Каталог пробников для логических анализаторов Agilent

Опубликовано 13 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 1

  • Название: Probing Solutions for Logic Analyzers
  • Автор: Agilent
  • Тип документа: Каталог
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 2,88 МБ

Краткое описание:

To assist you in choosing the best state/timing probing solution for your particular target, this document will consider the following:
- сhip packaging, test ports;
- special physical and electrical considerations;
- other accessories and options.

Далее...

Радиочастотные коаксиальные разъемы (каталог)

Опубликовано 09 Окт 2010 | Рубрика Разное | Просмотров: 43

  • Название: Радиочастотные коаксиальные соединители, разъемы, переходы коаксиальные – прецизионные, адаптеры
  • Автор: НПП “Спецкабель”
  • Тип документа: Каталог (2010 г.)
  • Язык: РУС
  • Формат: PDF
  • Размер: 1,06 МБ

Краткое описание:

РАЗДЕЛ II – Соединители радиочастотные коаксиальные.
РАЗДЕЛ III – Переходы коаксиальные, соединители, переходы и кабельные сборки на компонентах серии SMP.

Далее...

Измерения и автоматизация. Каталог National Instruments, 2008 г.

Опубликовано 08 Окт 2010 | Рубрика National Instruments, Разное | Просмотров: 51

  • Название: Измерения и автоматизация. Каталог 2008г.
  • Тип документа: Каталог
  • Язык: РУС
  • Формат: PDF
  • Размер: 3,26 МБ

Краткое описание:

Вот уже более 30 лет компания National Instruments является признанным лидером в области разработки и производства программного и аппаратного обеспечения для задач промышленной и научной автоматизации, диагностики, управления и моделирования. Нами была разработана революционная концепция Виртуальных приборов, изменившая традиционные подходы и методики проведения измерений, тестирований и создания систем автоматизации.
При максимальном использовании возможностей самых современных компьютерных и информационных технологий, виртуальные приборы позволили значительно увеличить производительность и снизить стоимость решений за счет применения простого и многофункционального программного обеспечения, такого как NI LabVIEW, а так же модульного оборудования стандартов PCI, PXI, PCI Express, PXI Express, USB и Ethernet, предназначенного для задач измерений и управления.

Далее...

Увеличение пропускной способности цифрового мультиметра

Опубликовано 07 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 37

  • Название: Improving Digital Multimeter Throughput (Agilent, Measurements Tips, Volume 5, Number 1)
  • Тип документа: Measurements Tips
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 595 КБ

Краткое описание:

Whether your electronic test is in a manufacturing, design validation, or R&D environment, reducing your test time translates to lower cost and shortened product development schedules, both of which are clear benefi ts. The vast majority of electronic tests involve using a digital multimeter (DMM) at one time or another. There are a variety of ways to reduce DMM measurement times to improve overall test throughput. Of course, test time improvements sometimes require compromises in other areas, but knowing the tradeoffs involved in throughput improvements and identifying what is important in your specifi c test situation will help you determine which tradeoffs make the most sense.

Далее...

Советы по выбору подходящего датчика температуры для вашего применения

Опубликовано 07 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Разное | Просмотров: 44

  • Название: Hints for Selecting the Correct Temperature Sensor for Your Application (Agilent, Measurements Tips, Volume 1, Number 3)
  • Тип документа: Measurements Tips
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 335 КБ

Краткое описание:

If you want to make reliable temperature measurements, you need to carefully select the right temperature sensor for your application. Understanding the advantages and disadvantages of temperature sensors will help you take the proper precautions when you set up a test. Thermocouples, thermistors, resistance temperature detectors (RTDs), and temperature ICs are the most common temperature sensors used in electronic test. This measurement brief compares operating ranges, accuracy, cost, stability, sensitivity and ease of use for these popular temperature sensors.

Далее...

Исследования показали, что отладка схем с помощью осциллографов Tektronix MSO4000 выполняется на 53% быстрее

Опубликовано 18 Сен 2010 | Рубрика Tektronix, Новости, Разное | Просмотров: 102

Компания Tektronix Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, в конце апреля 2010 года опубликовала результаты Исследования хронометража движений, проведенного в декабре 2009 года исследовательской фирмой Hansa|GCR под названием “Поиск поврежденных пакетов и глитчей в цифровых сигналах: исследование восприятия пользователем трех осциллографов”. Исследование показало, что две трети участников отдали предпочтение осциллографам смешанных сигналов Tektronix MSO4000, которые на 53% быстрее, чем осциллографы других производителей, находили поврежденные пакеты и глитчи в процессе отладки схем.

Далее...