National Instruments представила новую платформу сбора данных с интерфейсом Ethernet

Опубликовано 20 Сен 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 71

Новое шасси cDAQ позволяет создать высокоскоростные, распределенные системы измерений сигналов

Компания National Instruments объявила о выходе новой недорогой, модульной системы NI CompactDAQ на базе интерфейса Ethernet, которая обеспечивает простоту использования в сочетании с производительностью и гибкостью модульных систем. Новое восьмислотовое шасси NI cDAQ-9188 в промышленном исполнении, размерами 25х9х9 см, предназначено для подключения до 256 каналов иземрений электрических, физических или виброакустических сигналов. Более 50 модулей С-серии позволяют создавать удаленные или распределенные высокоростные системы сбора данных на базе гигабитного интерфейса Ethernet. Для систем NI CompactDAQ упрощен процесс первоначальной настройки с помощью специальной технологиии начальной установки и встроенной Web-утилиты конфигурирования и мониторинга состояния системы.

Agilent представляет IC-CAP WaferPro – программное обеспечении для автоматизированного DC и RF тестирования на пластинах

Опубликовано 19 Сен 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 63

Agilent объявил о выходе нового программного обеспечения IC-CAP WaferPro для снятия характеристик и анализа полупроводниковых интегральных схем и приборов.Новое программное обеспечение обеспечивает возможность многоместного (multi-site) режима измерения, режима с несколькими пластинами (multi-wafer), автоматизированного DC и RF измерения.

WaferPro позволяет пользователям управлять полуавтоматическими и полностью автоматическими зондовыми станциями. Благодаря поддержке последних матричных переключателей и решений с термальным столиком, WaferPro позволяет  автоматизировать развернутые измерения в диапазоне температур. Возможность WaferPro непосредственно управлять параметрическими системами тестирования Agilent 4070 и 4080  значительно увеличивает скорость измерений.

Исследования показали, что отладка схем с помощью осциллографов Tektronix MSO4000 выполняется на 53% быстрее

Опубликовано 18 Сен 2010 | Рубрика Tektronix, Новости, Разное | Просмотров: 102

Компания Tektronix Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, в конце апреля 2010 года опубликовала результаты Исследования хронометража движений, проведенного в декабре 2009 года исследовательской фирмой Hansa|GCR под названием “Поиск поврежденных пакетов и глитчей в цифровых сигналах: исследование восприятия пользователем трех осциллографов”. Исследование показало, что две трети участников отдали предпочтение осциллографам смешанных сигналов Tektronix MSO4000, которые на 53% быстрее, чем осциллографы других производителей, находили поврежденные пакеты и глитчи в процессе отладки схем.

Компактная диагностическая безэховая камера R&S®DST200 для разработки РЭС до 6 ГГц

Опубликовано 17 Сен 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 54

Компания Rohde&Schwarz представила новую безэховую камеру. Компактный размер позволяет разместить её на рабочем месте разработчика РЭС. Частотный диапазон от 700 МГц до 6 ГГц, однородность поля менее 3,2 дБ и экранирование 110 дБ делает камеру пригодной для тестирования, например, телефонов и других приёмников беспроводных стандартов связи (WLAN, WiMAX, GPS и т.д.).

LabVIEW 2010 обладает оптимизированным компилятором для быстрого исполнения кода

Опубликовано 16 Сен 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 116

Компания National Instruments представила специальную программу для разработчиков LabVIEW, позволяющую расширить функциональность платформы для использования в новых приложениях

Компания National Instruments представила LabVIEW 2010, последнюю версию среды графической разработки, предназначенную для использования в таких приложениях как тестирование, измерения, и системы управления. Новая версия среды разработки позволяет значительным образом снизить временные затраты на создание приложений за счет оптимизации компилятора, позволяющего увеличить скорость исполнения кода в среднем на 20%, а также широкого спектра библиотек функций, которые можно использовать для создания собственных алгоритмов.

National Instruments представила первый в отрасли векторный анализатор цепей на базе PXI

Опубликовано 16 Сен 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 47

Новый двухслотовый модуль PXI представляет собой векторный анализатор цепей в диапазоне до 6 ГГц, предназначенный для автоматизированного тестирования ВЧ-устройств

Компания National Instruments представила новый модуль NI PXIe-5630, ставший первым в области автоматизированных измерений анализатором цепей, выполненным в компактном форм-факторе PXI. Новый векторный анализатор цепей позволяет проводить весь спектр измерений на проход и отражение радиочастотных сигналов, а также обладает прецизионной автоматической калибровкой и идеально подходит для автоматизированной отладки прототипов ВЧ-устройств и автоматизированного тестирования при серийном производстве.