Рубрика «Новости»

Advantest представил решение для тестирования высокоскоростных интерфейсов

Опубликовано 29 Окт 2010 | Рубрика Advantest, Новости | Просмотров: 45

Компания Advantest обявила о доступности нового решения для тестирования высокоскоростных интерфейсов для своей системы T2000. Новое решение способно обеспечить высокую пропускную способность параллельного тестирования на скоростях до 12.5 Gbps  и включает модуль параметрического тестирования N6010A от Agilent Technologies.

Новые версии интерфейсов, такие как PCI Express Gen3 и Ethernet позволяют повысить скорость передачи данных, по сравнению с предыдущими архитектурами, создавая потребность в эффективном решении для тестирования высокоскоростных интерфейсов. Advantest T2000 является гибкой, настраиваемый пользователем тестовой системой, в сочетании с модулем Agilent N6010A, объединяет широкие функциональные возможности и широкий набор инструментов, чтобы обеспечить высокую точность, одновременное многополосное (multi-lane) тестирование  и снятие характеристик на скоростях до 12.5 Gbps.

Далее...

Компания Ix Innovations представила пикоамперметр с новым методом измерения

Опубликовано 27 Окт 2010 | Рубрика Новости | Просмотров: 50

Компания Ix Innovations представила пикоамперметр PocketPico SafeRanging – амперметр с диапазоном измерения постоянного тока от 20пА до 2мА и сообщает, что это первое крупное нововведение в этой областе, после модели Keithley 6485 с автоматическим выбором диапазона, представленной  в 2001 году.

В пикоамперметре PocketPico использует принципиально другой метод измерения для достижения точного измерения малых токов. В отличие от других амперметров, PocketPico использует логарифмическое сжатие сигналов и концепцию схемы с втекающим током (“current sink”), устраняя необходимость в раздельных диапазонах измерения.

Далее...

Tektronix улучшает осциллографы серии TDS2000 и устанавливает стартовую цену в 990$

Опубликовано 27 Окт 2010 | Рубрика Tektronix, Новости | Просмотров: 52

Tektronix обновляет свою серию осциллографов TDS2000 с пропускной способностью от 50 МГц до 200 МГц , и с двумя или четырьмя каналами, и устанавливает стартовую цену в 990$.

Серия TDS2000C включает в себя ряд существующих моделей, которые теперь предлагают увеличенную производительность, в том числе 2 модели, которые ранее имели частоту пропускания 60 МГц, а теперь имеют 70 МГц и две модели, которые имели частоту выборки 1 Gs/s, и увеличенную в настоящее время до 2 Gs/s.

Все модели имеют USB-порты, расширенный набор из 16 автоматических измерений, функцию предельных испытаний, интуитивно понятное управление со встроенной справкой, и пожизненную гарантию.

Далее...

Экономичная станция периферийного сканирования для разработчиков

Опубликовано 26 Окт 2010 | Рубрика JTAG, Новости | Просмотров: 87

JTAG Technologies предлагает новую бюджетную станцию для разработчиков плат и систем, а также небольших компаний, которые тоже хотели бы использовать преимущества JTAG-тестирования в своей работе.

Периферийное сканирование (или JTAG-тестирование) остается мощным средством для определения дефектов сборки, таких как обрывы, замыкания, отсутствующие компоненты и поврежденные микросхемы, с момента утверждения стандарта IEEE 1149.1 в 1990 году. Однако за 20 лет средства тестирования стали настолько автоматизированными и мощными, что все больше и больше стали подходить по функциональности и цене для производства серийных изделий, а не отелов разработчиков, а тем более небольших.

Далее...

Новые преобразователи частоты Rohde & Schwarz делают доступным анализ сети в диапазоне частот до 500 ГГц

Опубликовано 22 Окт 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 46

Rohde & Schwarz объявила о доступности своих новых частотных преобразователей R&S ZVA-Z500, которые позволяют сетевым анализаторам покрывать диапазон от 325 ГГц до 500 ГГц.  Модели R&S ZVA-Z500 обладают высоким динамическим диапазоном и высокой выходной мощностью во всем диапазоне частот, и могут быть полностью настроены через интерфейс сетевого анализатора.

Новый конвертер R&S ZVA-Z500 расширяет диапазон частот для сетевые анализатора высокого уровня до 500 ГГц. Конвертер позволяет измерять миллиметровые волны с динамическим диапазоном тип. > 65 дБ и выходной мощностью тип. -24 dBm. Это идеально подходит для научных исследований компонентов в диапазоне миллиметровых волн (Y-диапазон), а также для антенных измерений и микроволновых изображений. Новые преобразователи, специально разработаны для удовлетворения потребностей национальных гражданских и военных исследовательских институтов, университетов и метрологических институтов.

Далее...

Advantest адаптирует программное обеспечение компании Galaxy для анализа данных тестирования

Опубликовано 21 Окт 2010 | Рубрика Advantest, Новости | Просмотров: 51

Advantest и Galaxy Semiconductor Solutions объявили, что они заключили  лицензионное соглашение по программному обеспечение Galaxy Examinator™ для анализа данных тестирования.

В соответствии с условиями соглашения, команда инженеров Advantest будут  повсеместно применять Galaxy Examinator для анализа данных тестирования в STDF формате. Кроме того, с тем чтобы получить наиболее полное сопоставление данных и результатов, Advantest будет способствовать использованию программного обеспечения Examinator для пользователей своего тестового оборудования.

Далее...

Tektronix повышает частоту дискретизации осциллографов серии DPO/DSA/MSO70000C

Опубликовано 20 Окт 2010 | Рубрика Tektronix, Новости | Просмотров: 59

Компания Tektronix представила серию осциллографов DPO/DSA/MSO70000C , которые теперь имеют частоту дискретизации до 100 Гвыб/с по двум каналам с полосой пропускания до 20 ГГц. Инструменты чередуют две пары каналов с 50 Гвыб/с c двумя 100 Гвыб/с канала. Они имеют полосу пропускания 20 ГГц (DPO/DSA/MSO72004C), 16 ГГц (DPO/DSA/MSO71604C), и 12,5 ГГц (DPO/DSA/MSO71254C).

Осциллографы могут работать при 100 Гвыб/с на двух одиночных или дифференциальных каналах (с опцией дифференциального пробника). Если вам нужны три или четыре канала на 100 Гвыб/с, вы можете синхронизировать два осциллографа через разъемы на задней панели.

Далее...

Agilent представляет первые в отрасли RF и универсальные частотомеры серии 53200 с поддержкой LXI

Опубликовано 19 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 90

Agilent представляет первые частотомеры с поддержкой LXI класса С.

Серия 53200 демонстрирует ведущую в отрасли производительность и удобство использования, построен по стандартной вычислительной системе ввода/вывода для простоты подключения и сбора данных. Сочетание высокоскоростных измерений и встроенный анализ обеспечивает новые функциональные возможности, ранее недоступные в простых частотомерах.

RF и универсальные частотомеры Agilent серии 53200 предлагают базовую полосу пропускания 350 МГц с возможностью увеличения до 15 ГГц. Скорость чтения измерений возросла более чем на два порядка от предыдущего поколения. 53200 предлогает разрешение до 12 цифр в секунду разрешение при непрерывном счете и 20 пикосекунд разрешение при однократном, придав ему высокий потенциал в своем классе.

Далее...

Комплексное решение для испытаний сети LTE от Rohde & Schwarz

Опубликовано 19 Окт 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 61

Rohde & Schwarz выпустила новую версию программного обеспечения R&S ROMES, комплексного решения для тестирования LTE. Программное обеспечение получает доступа к данным от сканера R&S TSMW LTE  и тестового USB  LTE терминала. При проведении тестового проезда для оптимизации сетей, инженеры-испытатели в состоянии измерить скорость передачи и качество передачи данных в контрольной точке. Тестовые LTE терминалы имеют несколько антенн и поддержку технологии передачи со многими входами-выходами MIMO (Multiple Input Multiple Output).

Полевые испытания и первый запуск сетей LTE находятся в настоящее время в стадии реализации во многих странах. Например LTE сети уже запущены и работают в Швеции и США. По результатам запуска, монтажники и операторы LTE-инфраструктуры и их поставщики услуг теперь могут в состоянии проверить пропускную способность и качество передачи новых беспроводных сетей связи. Кроме того, тесты передачи гарантируют плавный переход между сетями, которые используют различные стандарты беспроводной связи.

Далее...

Метки: , , , ,

National Instruments добавляет возможность автоматического тестирования LTE для PXI RF-устройств

Опубликовано 18 Окт 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 42

Компания National Instruments представила набор библиотек для тестирования протокола беспроводной связи LTE, используемый совместно с радиочастотными векторными генераторами и анализаторами сигналов в формате PXI. Уже 20 и 21 октября в Чикаго на Всемирной конференции по беспроводным сетям 4-го поколения специалисты National Instruments продемонстрируют возможности платформы. Новая платформа была разработана специально для функционального тестирования беспроводных модулей, подсистем, станций мобильной связи и представляет собой функционально гибкое и высокоточное решение для специалистов, занимающихся разработкой специализированных систем тестирования оборудования, работающего в сетях LTE.

Далее...

Метки: , , , ,